用 工匠精神
做(zuò) 好 每 個 零 件
半導體零件是一類具(jù)有超結耐壓層的重要器(qì)件,超結將PN結引入到常規“電(diàn)阻型”耐壓層中,使之質變為“結型耐壓(yā)層”,這種質變突破傳統功率器件(jiàn)比導通電阻和耐壓之間的(de)Ron,sp ∝VB2.5“矽極限”關係,使之降(jiàng)低(dī)到Ron,sp ∝VB1.32,甚至 Ron,sp ∝VB1.03,超(chāo)結器件(jiàn)也因此被譽為半導(dǎo)體(tǐ)零件的(de)“裏程碑”。從耐壓層角度回顧(gù)功率半導體零件40年(nián)發展的3個裏程碑,綜述了超結的發明、概(gài)念(niàn)與機理、技術與(yǔ)新結構,並總結超結發展曆(lì)程與趨勢。
半導體零件加工是電能轉換(huàn)與(yǔ)控製的核心器件,所有電子產品均離不開半導體零件,無論(lùn)是毫瓦級的便攜式終端,還是兆(zhào)瓦級的高鐵。現代功率(lǜ)半導體技術已(yǐ)被廣泛應(yīng)用於國民經濟的方(fāng)方麵麵,從傳(chuán)統的工業電子、擴展到信息通(tōng)訊、計算機、消費和汽(qì)車領域(yù),新(xīn)能源(yuán)、軌道(dào)交通、電動汽(qì)車和智(zhì)能電網正成為功率(lǜ)半導體市場增長的(de)強大引擎(qíng)。
在這些應(yīng)用中,功率MOS和以其為核心的功率集成芯片在整個(gè)功率半導體市場份額占比高達74%,在近年功率(lǜ)單管的118億的銷售中,功(gōng)率MOS占比達(dá) 49%。超結(jié)的出現,使得器件比(bǐ)導通電阻(zǔ)大幅降,被國際上譽為“功率MOS器件的裏程碑”,超結的優越特性也(yě)帶來了巨大的(de)市場需求(qiú),有人預計明年市場規模將高達22億美元,半導體零件已被視為中國半導體破局的重(chóng)要領域。

半導(dǎo)體零件與耐壓層
與低壓半導體零件相比,半(bàn)導體零件關態條件下需承受高電壓,具有耐壓層結構,可(kě)以看(kàn)成低(dī)壓控製器件與耐壓層形成的複合結構。如圖1所(suǒ)示,功率MOS器件可視為(wéi)低壓MOS漏端D與準漏端D'之間插入耐壓層的複合(hé)結(jié)構,其控製部分工作機理(lǐ)與低壓MOS基本相同。半導體零件設計的關鍵之一(yī)是耐壓層的設計。
1.功(gōng)率半導體簡化結構(gòu)
理想的耐壓層應在關態下承受高電壓(yā),在開態下導通大電流,並實現兩者之間的快速轉換。因此,其基本要求是高耐壓、低導通電阻和高開關(guān)速度,其優化的本質(zhì)就是實現特定應用場景下的最佳折衷。
20世紀70年代發明的VDMOS,為承受高耐壓采(cǎi)用具有單一導電型的(de)“電阻型”耐壓(yā)層,人們很快發現其比導通電阻和耐(nài)壓之間存在Ron,sp ∝VB2.5極限關係(xì),使器件功耗隨耐壓劇增(zēng)。大量研究(jiū)致力於如何使器件性能盡可能接近甚(shèn)至突破“矽極(jí)限”,從耐壓層演變角度,需要在保證耐壓前提下盡可能增加開態載流(liú)子濃度,半導體(tǐ)零件呈現了(le)不同的發展階段。
阻型耐(nài)壓層器件,器件耐壓層為具有N或P單一導電類型的低摻雜半導體層,其特性受“矽極限”限製,典型(xíng)結構為常規VDMOS器件;通過將PN結正向注入特性引入(rù)到阻型耐壓層中,大注入非平衡載流子增加開(kāi)態載(zǎi)流子(zǐ)濃度,典型結構為IGBT;將(jiāng)異型(xíng)摻雜引入到耐(nài)壓層內(nèi)部形成周期性交替(tì)摻(chān)雜的耐壓層結構,其(qí)特點(diǎn)是將PN結反向耗盡特性引入到耐壓層內(nèi)部,實現兩區之間的電荷平衡,典型結構為本文重點闡(chǎn)述的超結,耐壓層從“阻型”到“結型”的轉變為耐壓層結(jié)構的一次質變。
從上麵的論述可以看出(chū),耐壓層演變的特點是巧妙地將PN結的正(zhèng)向與反向特(tè)性引入常規阻型耐壓層中,從(cóng)而實現耐壓層電阻降低。半導體零件加工廠


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